MARKUS VON OEHSEN

Dipl.-Math., LL. M., Dr. rer. nat.

 

 

Geboren 1971 in Berlin.

 

Mathematikstudium an der Universität Hamburg und der Loughborough University of Technology, Großbritannien; Diplomarbeit über Waveletmethoden in der Signalverarbeitung am Institut für Angewandte Mathematik, Universität Hamburg.

 

Doktorand am Institut für Mathematik der Universität zu Lübeck;

Doktorarbeit über mathematische Bildverarbeitungsmethoden.

 

Von 2002 bis 2003 PostDoc-Assistent am Seminar für Angewandte Mathematik, ETH Zürich, Schweiz.

 

Master-Studium "Europäischer Gewerblicher Rechtsschutz" mit Abschluss LL. M. an der Fernuninversität Hagen.

 

Seit 2003 in der Kanzlei STREHL, SCHÜBEL-HOPF & PARTNER, seit 2006 als deutscher Patentanwalt und seit 2007 als europäischer Patentanwalt zugelassen.


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